鋰電池正極材料粒徑分析的儀器推薦

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　　適合鋰電池正極材料粒徑分析的儀器推薦：
　　一、激光粒度分析儀
　　- 北京飛馳A-22干法激光粒度儀（納米型）：可干濕兩用，可以讓您根據(jù)自己的需求選擇測量范圍：擁有更大測量范圍的A-22，測量范圍拓展至0.01-3800μm，納米型激光粒度儀擁有的測量精度，附加的檢測器能夠更靈敏的分辨極小的顆粒。網(wǎng)站：http://www.bjfritsch.cn/；電話：010-82036109
　　- 馬爾文Mastersizer 3000激光粒度儀：是常用的激光粒度分析儀器，能夠快速、準(zhǔn)確地測量顆粒的粒度分布。
　　- 飛馳 ANALYSETTE 22 NanoTec濕法激光粒度分析儀：采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測。檢測下限可達(dá)0.01um。大量程激光粒度儀A22 NanoTec的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、微米型激光粒度儀。

　　二、掃描電子顯微鏡（SEM）
　　- 美國FEI公司QUANTA FEG 250型掃描電子顯微鏡：可用于觀察鋰電池正極材料的微觀形貌，從而間接推測粒徑信息。
　　- 場發(fā)射顯微鏡LBGI, JSM-7500F：配備Thermo Scientific Inc.能量色散X射線光譜（EDS）探測器，不僅可以觀察顆粒尺寸和形貌，還能確定樣品成分。
　　三、X射線衍射分析儀（XRD）
　　- 日本株式會(huì)社理學(xué)公司的Mini Flex600型X射線衍射分析儀：可用于鋰電池正極材料的物相分析，通過分析晶體結(jié)構(gòu)，可以間接計(jì)算粒徑。
　　- Phillips X'Part衍射儀：配備X'celerate探測器，采用銅Kα輻射，掃描角度范圍為10-90°（2θ），步長為0.0167°，通過MDI Rjas軟件進(jìn)行Rietveld精修，可對正極材料的晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)分析，進(jìn)而推算粒徑。
　　四、透射電子顯微鏡（TEM）
　　- JEOL 3010和JEOL 200CX顯微鏡：在勞倫斯伯克利國家實(shí)驗(yàn)室（LBNL）的國家電子顯微鏡中心（NCEM）使用，分別在300 kV和200 kV下操作，分辨率高，可以達(dá)到0.1nm～0.2nm，除了對樣品進(jìn)行形貌分析，還可以分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)。

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